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      首頁 > 產(chǎn)品中心 > 涂裝檢測 > 涂層測厚儀 > MiniTest 2100漆膜測厚儀

      漆膜測厚儀

      簡要描述:漆膜測厚儀MiniTest 2100或稱涂鍍層測厚儀、覆層測厚儀等等,可以配備各種EPK(Elektrophysik)探頭,實現(xiàn)不同的測量功能。

      • 產(chǎn)品型號:MiniTest 2100
      • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
      • 更新時間:2024-07-08
      • 訪  問  量:1571
      產(chǎn)品詳情

      漆膜測厚儀/覆層測厚儀MiniTest 2100探頭分類:

      F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
      N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
      FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

      漆膜測厚儀/覆層測厚儀MiniTest 2100探頭參數(shù):

      探頭

      量程

      低端
      分辨率

      誤差

      zui小曲率半徑
      (/)

      zui小測量
      區(qū)域直徑

      zui小基
      體厚度

      探頭尺寸



      應(yīng)

       

       

       

       

       

       

       

      F05

      0-500μm

      0.1μm

      ±(1%±0.7μm)

      1/5mm

      3mm

      0.2mm

      φ15x62mm

      F1.6

      0-1600μm

      0.1μm

      ±(1%±1μm)

      1.5/10mm

      5mm

      0.5mm

      φ15x62mm

      F1.6/90

      0-1600μm

      0.1μm

      ±(1%±1μm)

      平面/6mm

      5mm

      0.5mm

      φ8x8x170mm

      F2/90

      0-2000μm

      0.2μm

      ±(1%±1μm)

      平面/6mm

      5mm

      0.5mm

      φ8x8x170mm

      F3

      0-3000μm

      0.2μm

      ±(1%±1μm)

      1.5/10mm

      5mm

      0.5mm

      φ15x62mm

      F10

      0-10mm

      5μm

      ±(1%±10μm)

      5/16mm

      20mm

      1mm

      φ25x46mm

      F20

      0-20mm

      10μm

      ±(1%±10μm)

      10/30mm

      40mm

      2mm

      φ40x66mm

      F50

      0-50mm

      10μm

      ±(3%±50μm)

      50/200mm

      300mm

      2mm

      φ45x70mm



       

       

       

      FN1.6

      0-1600μm

      0.1μm

      ±(1%±1μm)

      1.5/10mm

      5mm

      F0.5mm/N50μm

      φ15x62mm

      FN1.6P

      0-1600μm

      0.1μm

      ±(1%±1μm)

      平面

      30mm

      F0.5mm/N50μm

      φ21x89mm

      FN2

      0-2000μm

      0.2μm

      ±(1%±1μm)

      1.5/10mm

      5mm

      F0.5mm/N50μm

      φ15x62mm




       

       

       

       

       

       

       

       

       

      N02

      0-200μm

      0.1μm

      ±(1%±0.5μm)

      1/10mm

      2mm

      50μm

      φ16x70mm

      N.08Cr

      0-80μm

      0.1μm

      ±(1%±1μm)

      2.5mm

      2mm

      100μm

      φ15x62mm

      N1.6

      0-1600μm

      0.1μm

      ±(1%±1μm)

      1.5/10mm

      2mm

      50μm

      φ15x62mm

      N1.6/90

      0-1600μm

      0.1μm

      ±(1%±1μm)

      平面/10mm

      5mm

      50μm

      φ13x13x170mm

      N2

      0-2000μm

      0.2μm

      ±(1%±1μm)

      1.5/10mm

      5mm

      50μm

      φ15x62mm

      N2/90

      0-2000μm

      0.2μm

      ±(1%±1μm)

      平面/10mm

      5mm

      50μm

      φ13x13x170mm

      N10

      0-10mm

      10μm

      ±(1%±25μm)

      25/100mm

      50mm

      50μm

      φ60x50mm

      N20

      0-20mm

      10μm

      ±(1%±50μm)

      25/100mm

      70mm

      50μm

      φ65x75mm

      N100

      0-100mm

      100μm

      ±(1%±0.3mm)

      100mm/平面

      200mm

      50μm

      φ126x155mm

      CN02

      10-200μm

      0.2μm

      ±(1%±1μm)

      平面

      7mm

      無限制

      φ17x80mm

      注意:

      F1.6/90F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測量。
      N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。
      CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層

      /覆層測厚儀MiniTest 2100技術(shù)參數(shù):

      MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量

      應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))

      1

      每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計計算,并可設(shè)寬容度極限值)

      1

      可用各自的日期和時間標(biāo)識特性的組數(shù)

      1

      數(shù)據(jù)總量

      10000

      MINITEST統(tǒng)計計算功能

      讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar

      讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

       

      組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar

       

      組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

       

      存儲顯示每一個應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)

       

      分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值

       

      顯示并打印測量值、打印的日期和時間

      其他功能

      設(shè)置極限值

       

      連續(xù)測量模式快速測量,通過模擬柱識別zui大zui小值

       

      連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)

       

      連續(xù)測量模式中顯示zui小值

       

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