X-RAY鍍層測厚儀 射線分析儀
簡要描述：X-RAY鍍層測厚儀或稱射線分析儀，德國*，全稱為FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210，可以測量電鍍層例如：銅、鎳、鉻、鋅、錫、鈦、金、銀或者合金比如鋅鎳合金等等的鍍層厚度以及成份，還可以進(jìn)行電解液（電鍍?nèi)芤海┑臏y成份分析
產(chǎn)品型號：FISCHERSCOPE XDL210- 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
- 更新時間：2024-07-07
- 訪 問 量：8403
產(chǎn)品詳情
X-RAY鍍層測厚儀又名射線分析儀 菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀鍍層分析儀 x射線多鍍層測厚儀
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210
技術(shù)參數(shù)表如下：
菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210
X 射線熒光光譜儀，采用手動或自動方式，
測量和分析印刷線路板、防護(hù)及裝飾性鍍層
及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。
FISCHERSCOPE X-RAY XDL
2 FISCHERSCOPE X-RAY XDL
菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀簡介
FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL®是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從
大眾認(rèn)可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發(fā)展而來的。與上一代相類
似，它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析，同時還能全自動測量大規(guī)模生產(chǎn)的零
部件及印刷線路板。
比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。由于采用了Fischer 基本
參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析
和測量。zui多可同時測量從氯（17）到鈾（92）中的24 種元素。
XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。
XDL 系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：
?測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件
?測量薄鍍層，例如裝飾鉻
?測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
?全自動測量，如測量印刷線路板
?分析電鍍?nèi)芤?/span>
菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀設(shè)計理念
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設(shè)計為界面友好的臺式測量儀器系列。我們會根據(jù)樣
品平臺的運行模式以及固定或者可調(diào)節(jié)的Z 軸系統(tǒng)來設(shè)定不同型號的儀器以滿足實際
應(yīng)用的需求。
XDL210：平面樣品平臺，固定的Z 軸系統(tǒng)
高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能，可以定位測量位置。通過視頻
窗口，還可以實時觀察測量過程和進(jìn)度。配有馬達(dá)驅(qū)動X-Y 樣品平臺的儀器還配備了
激光點，可以輔助定位并快速對準(zhǔn)測量位置。
測量箱底部的開槽專為大而扁平的樣品設(shè)計，可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。
例如大型的線路板。
所有的操作，測量數(shù)據(jù)的計算，以及測量數(shù)據(jù)報表的清晰顯示都是通過強大而界面友
好的WinFTM®軟件在電腦上完成的。
XDL 型光譜儀是安全而保護(hù)全面的測量儀器，型式許可符合德國“Deutsche
Röntgenverordnung-RöV”法規(guī)規(guī)定。
XDL
3
菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀通用規(guī)范
用途
能量色散X 射線熒光光譜儀 （EDXRF） 用來測量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu)，分析合金和微量
組分。
元素范圍zui多同時測量從氯（Cl 17）到鈾（U 92）之間的24 種元素
設(shè)計理念臺式儀器，測量門向上開啟
測量方向從上到下
X 射線源
X 射線源帶鈹窗口的鎢管
高壓三種高壓： 30 kV，40 kV，50 kV，可調(diào)整
孔徑（準(zhǔn)直器） Ø 0.3 mm （可選：圓形Ø 0.1 mm； Ø 0.2 mm；長方形0.3 mm x 0.05 mm）
測量點
取決于測量距離及使用的準(zhǔn)直器大小；實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的*。
zui小的測量點大小約Ø 0.16mm.
測量距離，如測量腔體內(nèi)部
0 ~ 80 mm，未校準(zhǔn)范圍，使用保護(hù)的DCM 功能
0 ~ 20 mm，已校準(zhǔn)范圍，使用保護(hù)的DCM 功能
X 射線探測
X 射線接收器比例接收器
樣品定位
視頻顯微鏡
高分辨 CCD 彩色攝像頭，用于查看測量位置
手動調(diào)焦或自動聚焦
十字線刻度和測量點大小經(jīng)過校準(zhǔn)
測量區(qū)域照明亮度可調(diào)
激光點用于定位樣品
放大倍數(shù) 20x ~ 180x （光學(xué)變焦: 20x ~ 45x; 數(shù)字變焦: 1x, 2x, 3x, 4x）
樣品臺 XDL 210
設(shè)計固定式樣品平臺
zui大移動范圍 -
X/Y 平臺移動速度 -
X/Y 平臺移動重復(fù)精度 -
Z 軸移動范圍 -
可用樣品放置區(qū)域 463 x 500 mm
樣品zui大重量 20 kg
樣品zui大高度 155/90/25 mm
激光定位點 -
FISCHERSCOPE X-RAY XDL
鍍層厚度材料分析顯微硬度材料測試
電氣參數(shù)
電壓，頻率 AC 115 V 或 AC 230 V 50 / 60 Hz
功率zui大 120 W （不包括計算機）
保護(hù)等級 IP40
儀器規(guī)格
菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀外部尺寸寬x 深x 高[mm]：570 x 760 x 650
重量 XDL210：90 kg；XDL220：95 kg；XDL230：105 kg；XDL240：120 kg
內(nèi)部測量室尺寸寬x 深x 高[mm]: 460 x 495 （參考“樣品zui大高度”部分的說明）
環(huán)境要求
操作溫度 10°C – 40°C / 50°F – 104°F
儲藏或運輸溫度 0°C – 50°C / 32°F – 122°F
空氣濕度 ≤ 95 %，無結(jié)露
計算系統(tǒng)
計算機帶擴(kuò)展卡的計算機系統(tǒng)
軟件
標(biāo)準(zhǔn)： WinFTM® V.6 LIGHT
可選： WinFTM® V.6 BASIC，PDM，SUPER
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
CE 合格標(biāo)準(zhǔn) EN 61010
X 射線標(biāo)準(zhǔn) DIN ISO 3497 和 ASTM B 568
型式許可
安全而保護(hù)全面的測量儀器，型式許可符合德國“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”
法規(guī)規(guī)定。
如有特殊要求，可于Fischer 磋商，定制特殊的XDL 型號。更多選項和，請致電蘇州圣光儀器有限公司。
